本發明公開了一種電路板的測試治具，屬于治具設備技術領域，為解決傳統的電路板調試方法檢測效率低，勞動強度大，容易出錯，精確度低等問題而設計。電路板的測試治具包括設置在底箱上方的上模組件和設置在底箱上面板上的下模組件，在上模組件的升降機構和XY軸調節機構作用下，將上模組件上的探針調節至穿過下模組件探針板上的探針孔，使探針與產品載板上的被測產品接觸用于測試如電路板主要元器件的漏焊及電路的開短路等情況。本發明操作簡單，自動化程度高，簡化了人工操作，降低了勞動強度，提高了工作效率和測試精確度。

1.一種電路板的測試治具，其特征在于：包括設置在底箱(1)上方的上模組件和設置在
底箱上面板上的下模組件，所述上模組件包括升降機構(21)、XY軸調節機構(22)和探針
(23)，所述升降機構(21)用于帶動所述探針(23)上下移動，所述XY軸調節機構(22)用于帶
動所述探針(23)在水平面內沿Y軸方向和/或X軸方向移動；
所述下模組件包括產品載板(31)和壓棒模組(32)，所述產品載板(31)上設置有探針模
組(33)，所述壓棒模組(32)包括壓棒(321)和壓棒下壓氣缸(322)，所述探針模組(33)包括
探針板(331)，所述探針板(331)上設置有探針孔(332)，當所述探針(23)測試產品時，所述
壓棒(321)在壓棒下壓氣缸(322)的作用下壓在產品載板(31)上，所述探針(23)穿過所述探
針孔(332)與被測產品接觸，所述探針(23)連接測試單元將測試數據傳輸至所述底箱(1)上
的界面板上；
所述壓棒模組還包括Y軸調節機構(323)，用于帶動所述壓棒(321)沿Y軸方向移動；
所述XY軸調節機構(22)包括Y軸調節機構(221)和若干個X軸微調機構(222)，所述Y軸
調節機構分別與所述升降機構(21)的懸臂(211)和所述X軸微調機構(222)相連，每個所述X
軸微調機構(222)通過一聯軸器(223)與一探針(23)相連。
2.根據權利要求1所述的一種電路板的測試治具，其特征在于：所述探針模組(33)還包
括設置在所述底箱上面板底部且位于所述底箱內的探針模組上頂氣缸(333)，當所述探針
(23)測試產品時，所述探針模組上頂氣缸(333)驅動所述探針板(331)向上頂起。
3.根據權利要求1所述的一種電路板的測試治具，其特征在于：所述底箱上面板底部設
置有用于固定被測產品的真空吸盤(4)，所述真空吸盤(4)與真空發生器相連。
4.根據權利要求1所述的一種電路板的測試治具，其特征在于：所述底箱上面板上設置
有直線導軌，所述直線導軌平行于Y軸方向設置，所述壓棒(321)可沿所述直線導軌滑動至
所述產品載板(31)的正上方。
5.根據權利要求1所述的一種電路板的測試治具，其特征在于：所述底箱(1)內設置有
PLC控制器(5)。
6.根據權利要求2所述的一種電路板的測試治具，其特征在于：所述底箱(1)的后方設
置有進氣口(6)，所述進氣口(6)通過氣管分別與外部氣泵和所述探針模組上頂氣缸(333)
相連。
7.根據權利要求5所述的一種電路板的測試治具，其特征在于：所述底箱(1)內還設置
有散熱裝置(7)。
8.根據權利要求1所述的一種電路板的測試治具，其特征在于：所述底箱(1)的底部設
置有牛眼輪(8)。