本發(fā)明涉及用于確定探針測量位置的坐標(biāo)測量機(CMM)。CMM包括關(guān)節(jié)臂，其第一端形成為可定位在支撐表面上的底座，第二端可相對于第一端移動，并且連接有探針。還存在至少一個感測單元，其用于測量所述至少一個接頭的實際相對位置；和至少一個計算單元，其用于測量探針相對于底座的測量位置，并用于通過使用所提供的外部坐標(biāo)系中底座位置來在外部坐標(biāo)系中標(biāo)定測量位置。根據(jù)本發(fā)明，關(guān)節(jié)臂還包括第一傾斜計，其用于測量相對于外部坐標(biāo)系中標(biāo)定的外部矢量、更具體地相對于重力矢量的傾斜度。與所測傾斜度相關(guān)聯(lián)地，第一傾斜計提供電子傾斜度值，該傾斜度值與所提供的或之前確定的外部底座位置一起用于在外部坐標(biāo)系中標(biāo)定所述測量位置。

1.一種用于確定探針(6)的測量位置的坐標(biāo)測量機(1)，其包括·關(guān)節(jié)臂(2)，該關(guān)節(jié)臂具有第一和第二端，和在所述第一和第二端之間的至少一個接頭(8a-8d)，所述第一端形成能夠定位在支撐表面(10)上的底座(3)，所述第二端能夠相對于所述第一端運動并且連接有所述探針(6)，·至少一個感測單元(9a-d)，所述感測單元用于測量所述至少一個接頭(8a-8d)的實際相對方位，以及·至少一個計算單元(7)°所述計算單元用于計算所述探針(6)相對于所述底座(3)的測量位置，且°所述計算單元用于通過使用所提供的外部坐標(biāo)系(ECS)中的底座位置而在所述外部坐標(biāo)系(ECS)中標(biāo)定所述測量位置，所述坐標(biāo)測量機的特征在于：·所述關(guān)節(jié)臂包括第一傾斜計(4)，該第一傾斜計用于測量相對于在所述外部坐標(biāo)系中標(biāo)定的外部矢量的傾斜度，并且用于提供電子傾斜度值，·進一步利用所述傾斜度值來在所述外部坐標(biāo)系(ECS)中標(biāo)定測量位置。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的坐標(biāo)測量機(1)，其特征在于，所述第一傾斜計(4)布置在所述關(guān)節(jié)臂(2)的所述底座(3)上。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的坐標(biāo)測量機(1)，其特征在于，至少一第二傾斜計(4b)布置在所述關(guān)節(jié)臂(2)上。4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的坐標(biāo)測量機(1)，其特征在于，所述第一傾斜計(4)形成為雙軸傾斜計。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的坐標(biāo)測量機(1)，其特征在于，與每一個位置測量相關(guān)地，由所述第一傾斜計(4)提供實際傾斜度值，并且所述實際傾斜度值由所述至少一個計算單元(7)用來在所述外部坐標(biāo)系(ECS)中標(biāo)定所述測量位置。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的坐標(biāo)測量機(1)，其特征在于，由所述第一傾斜計(4)連續(xù)地、以給定的測量速率提供所述實際傾斜度值。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的坐標(biāo)測量機(1)，其特征在于，·所述關(guān)節(jié)臂(2)包括至少五個接頭(8a-8d)和·分別配屬于所述至少五個接頭(8a-8d)中的每一個的至少五個感測單元(9a-9d)。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的坐標(biāo)測量機(1)，其特征在于，所述在所述外部坐標(biāo)系中標(biāo)定的外部矢量是重力矢量(GV)。9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的坐標(biāo)測量機(1)，其特征在于，至少一第二傾斜計(4b)布置在所述底座(3)上。10.一種用于確定坐標(biāo)測量機(1)的探針(6)的測量位置的方法，所述坐標(biāo)測量機(1)包括·關(guān)節(jié)臂(2)，該關(guān)節(jié)臂具有第一和第二端，和在所述第一和第二端之間的至少一個接頭(8a-8d)，所述第一端形成能夠定位在支撐表面(10)上的底座(3)，所述第二端能夠相對于所述第一端移動并且連接有探針(6)，所述方法包括以下步驟：·測量所述至少一個接頭(8a-8d)的實際相對方位，·計算所述探針(6)相對于所述底座的測量位置，和·通過使用所提供的外部坐標(biāo)系(ECS)中的底座位置而在所述外部坐標(biāo)系(ECS)中標(biāo)定所述測量位置，其特征在于：·測量所述關(guān)節(jié)臂(2)的至少一部分相對于在所述外部坐標(biāo)系中標(biāo)定的外部矢量的傾斜，并且提供傾斜度值，以及·進一步使用所述傾斜度值來標(biāo)定所述測量位置。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，測量所述底座相對于所述支撐表面(10)的所述傾斜度。12.根據(jù)權(quán)利要求10或11所述的方法，其特征在于，相對于水平面測量所述傾斜度。13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，連續(xù)地、以給定的測量速率測量所述傾斜度。14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，與每一位置測量相關(guān)地，提供所述實際傾斜度值，并且采用所述實際傾斜度值來標(biāo)定所述測量位置。15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述底座位置由以下步驟提供：·使用所述坐標(biāo)測量機(1)的所述關(guān)節(jié)臂(2)測量至少三個參照點(11)相對于所述底座(3)的測量位置，所述參照點(11)的位置在所述外部坐標(biāo)系(ECS)中已知，并且由此·在所述外部坐標(biāo)系(ECS)中標(biāo)定所述底座位置。16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述在所述外部坐標(biāo)系中標(biāo)定的外部矢量是重力矢量(GV)。