本發明提出一種多功能光學模組測試臺座，包括：上壓板、定位塊、熱傳導片、探針模塊、連接器壓塊和底座；定位塊、熱傳導片安裝在底座上，定位塊至少包括第一定位塊和第二定位塊，并位于熱傳導片的上面，第一定位塊和第二定位塊組成錯層凹槽，以使待測光學模組放入凹槽中；根據不同類型的所述待測光學模組，探針模塊和連接器壓塊分別安裝在上壓板和所述底座上，或者分別安裝在底座和上壓板上，以使所述上壓板和底座扣合時，使所述待測光學模組通電。本發明的多功能光學模組測試臺座，能夠避免因加工件的局限性造成的影響測試效率和精度的問題，同時也使得加工形式多樣化，并且本發明的定位塊形成的錯層凹槽結構，減少了加工難度。

1.一種多功能光學模組測試臺座，其特征在于，包括：上壓板、定位塊、熱傳導片、探針模塊、連接器壓塊和底座；所述定位塊、熱傳導片安裝在所述底座上，所述定位塊至少包括第一定位塊和第二定位塊，并位于所述熱傳導片的上面，所述第一定位塊和第二定位塊組成錯層凹槽，以使待測光學模組放入所述凹槽中；根據不同類型的所述待測光學模組，對于通電連接器朝上的所述待測光學模組，所述探針模塊和連接器壓塊分別安裝在所述上壓板和所述底座上，當所述上壓板扣合時，通過所述連接器壓塊扣緊使所述通電連接器與所述探針模塊接觸通電；對于通電連接器朝下的所述待測光學模組，所述探針模塊和連接器壓塊分別安裝在所述底座和所述上壓板上，當所述上壓板扣合時，通過所述連接器壓塊扣緊使所述通電連接器與所述探針模塊接觸通電。2.根據權利要求1所述的多功能光學模組測試臺座，其特征在于，所述定位塊可拆卸地安裝在所述底座上，并且根據所述待測光學模組的類型，所述定位塊的大小和/或位置能夠調節，或者所述定位塊能夠被更換。3.根據權利要求1所述的多功能光學模組測試臺座，其特征在于，所述熱傳導片整體加工后固定在所述定位塊的下面。4.根據權利要求3所述的多功能光學模組測試臺座，其特征在于，所述熱傳導片為陶瓷片，所述陶瓷片上設有一個以上的測溫孔。5.根據權利要求1所述的多功能光學模組測試臺座，其特征在于，所述上壓板上設有U型槽和螺孔，所述連接器壓塊或探針模塊通過所述螺孔可拆卸地安裝在所述U型槽上，且能夠沿著所述U型槽移動。6.根據權利要求1所述的多功能光學模組測試臺座，其特征在于，所述上壓板上還設有引導定位銷，用于準確控制所述探針模塊或者連接器壓塊的偏移量。7.根據權利要求1所述的多功能光學模組測試臺座，其特征在于，所述上壓板可拆卸地連接在所述底座的一端。8.根據權利要求1所述的多功能光學模組測試臺座，其特征在于，所述第一定位塊具有伸出的上邊沿，所述第二定位塊具有伸出的下邊沿，所述上邊沿和下邊沿構成所述錯層凹槽。9.根據權利要求1-8任一所述的多功能光學模組測試臺座，其特征在于，所述待測光學模組放入所述錯層凹槽后，可與所述第一定位塊和所述第二定位塊形成回字形。