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光學試驗裝置

  • 專利類型:發明專利
  • 有效期:不限
  • 發布日期:2022-02-01
  • 技術成熟度:已有樣品
交易價格: ¥面議
  • 法律狀態核實
  • 簽署交易協議
  • 代辦官方過戶
  • 交易成功

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  • 技術(專利)類型 發明專利
  • 申請號/專利號 CN201210558895.1 
  • 技術(專利)名稱 光學試驗裝置 
  • 項目單位 夏普株式會社
  • 發明人 內田練,石川真治,佐藤哲也 
  • 行業類別 其他領域
  • 技術成熟度 已有樣品
  • 交易價格 ¥面議
  • 聯系人 王筱涵
  • 發布時間 2022-02-01  
  • 01

    項目簡介

    本發明提供一種光學試驗裝置,無論各芯片所對應的探針位置,能夠使光量的計測條件均等,而使光量的測量值均等。其中,作為在發光器件例如LED芯片等的芯片(22)的光學特性計測中、使多個同時進行探針接觸來計測光量時的光學性修正單元,具備如下:用于供給電源的接觸探針(21);在接觸探針群的兩側,以在其以外遮擋擴散光為目的的用于取得同等計測條件的虛擬探針(21a)。
    展開
  • 02

    說明書

    1.一種光學試驗裝置,其特征在于,具有:
    在與計測對象的多個發光器件進行電接觸而計測光學特性時,用于向
    該多個發光器件供給電源的多個接觸單元;
    在該多個接觸單元的排列的兩側分別設置、且與該接觸單元同樣的用
    于遮擋來自該發光器件的擴散光而使光量計測條件均等的虛擬接觸單元。
    2.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    由固定有所述多個接觸單元及其兩側的所述虛擬接觸單元的卡片單
    元構成。
    3.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述虛擬接觸單元,通過遮蔽來自計測對象的計測區域的所述發光器
    件的排列的兩側末端位置的該發光器件的擴散光,進行在所述多個發光器
    件間對所述光學特性的計測值進行校正的物理性光學校正。
    4.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述接觸單元和所述虛擬接觸單元,按照來自其下方的發光器件的擴
    散光的遮光寬度或遮光面積同等的方式構成。
    5.根據權利要求4所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述接觸單元和所述虛擬接觸單元的截面形狀被構成為同等尺寸的
    同等形狀。
    6.根據權利要求5所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述接觸單元和所述虛擬接觸單元被構成為截面同等直徑。
    7.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    以與所述多個接觸單元的配置間隔同等的間隔,在該多個接觸單元的
    兩側配置所述虛擬接觸單元。
    8.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述接觸單元和所述虛擬接觸單元,將距所述多個發光器件的發光高
    度位置的高度配置成同等的高度。
    9.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述接觸單元的材質與所述虛擬接觸單元的材質由同等的材質構成。
    10.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述接觸單元的表面反射特性與所述虛擬接觸單元的表面反射特性
    被構成為同等的表面反射特性。
    11.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    在所述多個接觸單元的排列的兩側所分別設置的所述虛擬接觸單元
    的需要數量,根據來自所述發光器件的擴散光的擴散特性決定。
    12.根據權利要求1或11所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    在所述多個接觸單元的排列的兩側所分別設置的所述虛擬接觸單元
    的需要數量,根據從所述發光器件的發光高度位置至所述接觸單元的高度
    位置的距離決定。
    13.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述虛擬接觸單元的前端形狀,與所述接觸單元的前端形狀相比,被
    縮短至該虛擬接觸單元的前端不會與所述發光器件的電極片接觸。
    14.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述接觸單元是接觸探針,所述虛擬接觸單元是虛擬探針。
    15.根據權利要求2所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述多個接觸單元是多個接觸探針,所述虛擬接觸單元是虛擬探針,
    所述卡片單元由固定有該多個接觸探針及其兩側的該虛擬探針的探針卡
    構成。
    16.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    使在所述多個接觸單元之中的、其排列的中央部的接觸單元的表面反
    射特性被調整得比其兩側的該接觸單元的表面反射特性高。
    17.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    使在所述多個接觸單元之中的、其排列的中央部的接觸單元的遮光程
    度被調整得比其兩側的該接觸單元的遮光程度小。
    18.根據權利要求1所述的光學試驗裝置,其特征在于,
    所述多個接觸單元及其兩側的所述虛擬接觸單元,分別朝向所述發光
    器件的兩電極片而從該發光器件的兩側、相對于該多個發光器件的排列方
    向在俯視下正交或具有規定角度地排列。
    展開

專利技術附圖

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