提供能夠容易地進(jìn)行校正處理的光學(xué)測定裝置和校正方法。光學(xué)測定裝置具有：記錄部（26），其記錄通過測定探針（3）對具有與樣本（S1）相同的折射率的第1介質(zhì)照射照明光時的第1檢測強(qiáng)度與通過測定探針（3）對第2介質(zhì)照射照明光時的第2檢測強(qiáng)度的比值；以及運(yùn)算部（271），其根據(jù)通過測定探針（3）對第2介質(zhì)照射照明光時的第3檢測強(qiáng)度與記錄部（26）記錄的比值之積，運(yùn)算在對來自樣本（S1）的照明光的返回光進(jìn)行校正時使用的背景光的背景強(qiáng)度。

1.一種光學(xué)測定裝置，其特征在于，該光學(xué)測定裝置具有：
測定探針，其對樣本照射照明光，并且接收被所述樣本反射和/或散射的所述照
明光的返回光；
檢測部，其檢測所述測定探針接收到的所述返回光；
記錄部，其記錄第1檢測強(qiáng)度與第2檢測強(qiáng)度的比值，所述第1檢測強(qiáng)度是通過
所述測定探針對具有與所述樣本相同的折射率的第1介質(zhì)照射照明光時檢測到的、是
在不包含來自所述第1介質(zhì)的返回光的狀態(tài)下檢測到的光的強(qiáng)度，所述第2檢測強(qiáng)度
是通過所述測定探針對第2介質(zhì)照射照明光時檢測到的、是在不包含來自所述第2
介質(zhì)的返回光的狀態(tài)下檢測到的光的強(qiáng)度；以及
運(yùn)算部，其根據(jù)第3檢測強(qiáng)度與所述比值之積，運(yùn)算在對來自所述樣本的所述返
回光進(jìn)行校正時使用的背景光的背景強(qiáng)度，所述第3檢測強(qiáng)度是通過所述測定探針對
第3介質(zhì)照射照明光時檢測到的、是在不包含來自所述第3介質(zhì)的返回光的狀態(tài)下檢
測到的光的強(qiáng)度，其中，所述第3介質(zhì)是與所述第2介質(zhì)相同的物質(zhì)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)測定裝置，其特征在于，
在所述測定探針對所述樣本照射所述照明光時，所述運(yùn)算部從所述檢測部檢測到
的來自所述樣本的所述返回光的檢測強(qiáng)度中減去所述背景強(qiáng)度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)測定裝置，其特征在于，
所述檢測部具有分光器，
所述第1檢測強(qiáng)度、所述第2檢測強(qiáng)度和所述第3檢測強(qiáng)度是針對由所述分光器
分光后的各波長檢測到的值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)測定裝置，其特征在于，
所述第1介質(zhì)是水。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)測定裝置，其特征在于，
所述第2介質(zhì)是空氣。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)測定裝置，其特征在于，
所述測定探針相對于該光學(xué)測定裝置的主體部拆裝自如。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)測定裝置，其特征在于，
所述樣本是活體組織。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)測定裝置，其特征在于，
所述樣本的折射率與所述第1介質(zhì)的折射率之差的絕對值為0.1以下。
9.根據(jù)權(quán)利要求1～8中的任意一項(xiàng)所述的光學(xué)測定裝置，其特征在于，
針對在內(nèi)表面施加有吸收光的光吸收部件的容器中收納的所述第1介質(zhì)測定所
述第1檢測強(qiáng)度，
針對所述容器中收納的所述第2介質(zhì)測定所述第2檢測強(qiáng)度。
10.一種校正方法，其由具有測定探針并進(jìn)行樣本的光學(xué)測定的光學(xué)測定裝置執(zhí)
行，所述測定探針對所述樣本照射照明光并且接收被所述樣本反射和/或散射的所述
照明光的返回光，該校正方法的特征在于，該校正方法包括以下步驟：
運(yùn)算步驟，根據(jù)第1檢測強(qiáng)度和第2檢測強(qiáng)度的比值與第3檢測強(qiáng)度之積，運(yùn)算
在對來自所述樣本的所述返回光進(jìn)行校正時使用的背景光的背景強(qiáng)度，所述第1檢測
強(qiáng)度是通過所述測定探針對具有與所述樣本相同的折射率的第1介質(zhì)照射照明光時
檢測到的、是在不包含來自所述第1介質(zhì)的返回光的狀態(tài)下檢測到的光的強(qiáng)度，所述
第2檢測強(qiáng)度是通過所述測定探針對第2介質(zhì)照射照明光時檢測到的、是在不包含來
自所述第2介質(zhì)的返回光的狀態(tài)下檢測到的光的強(qiáng)度，所述第3檢測強(qiáng)度是通過所述
測定探針對第3介質(zhì)照射照明光時檢測到的、是在不包含來自所述第3介質(zhì)的返回光
的狀態(tài)下檢測到的光的強(qiáng)度，其中，所述第3介質(zhì)是與所述第2介質(zhì)相同的物質(zhì)；以
及
減法步驟，從來自所述樣本的所述返回光的檢測強(qiáng)度中減去所述背景強(qiáng)度。